|
Λεπτομέρειες:
Πληρωμής & Αποστολής Όροι:
|
| Κατηγορία ακρίβειας: | 0,05 | Αντικείμενο δοκιμής: | ψηφιακό (ηλεκτρονικό) VT CT |
|---|---|---|---|
| Λειτουργία δοκιμής: | Αναλογία λάθος, λάθος γωνίας φάσης, δοκιμή πολικότητας… κ.λπ. | Αναλογικό σήμα εισαγωγής: | 0-10V (αιχμή) |
| Εφαρμογή: | Έξυπνος υποσταθμός, παραγωγός CT PT | Συμβατός: | με το πρωτόκολλο IEC61850 |
| Επισημαίνω: | 0.05 Substation Test Equipment,05 εξοπλισμός δοκιμής υποσταθμών,10V εξοπλισμός δοκιμής υποσταθμών |
||
Ηλεκτρονικός (ψηφιακός) διακριβωτής hewd-2A CT &PT
Τεχνικές παράμετροι
| Αρχικό εκτιμημένο μέτρο τάσης | μέχρι 500KV |
| Αρχικό εκτιμημένο τρέχον μέτρο | 5-5000A, προσαρμογή διαθέσιμη |
| Τυποποιημένη εισαγωγή σημάτων | |
| Εισαγωγή τάσης | 0-120%Un, Un=100V, 100/√3V. Προσαρμογή διαθέσιμη |
| Τρέχουσα εισαγωγή | 0120%In, In=1A ή 5A. Προσαρμογή διαθέσιμη |
| Αναλογικό σήμα εισαγωγής | 0-10V (τιμή κορυφής) |
| Μικρή παραγωγή σημάτων (κύμα ημιτόνου) | 0-4V (αξία RMS) |
| Κατηγορία ακρίβειας | |
| Αναλογία λάθος | <0> |
| Λάθος φάσης | <2> |
| Απόλυτη καθυστέρηση | <1> |
| Καθυστέρηση jitter | <0> |
| Διεπαφή οπτικής ίνας του ST (μια ομάδα) | |
| Οπτική ίνα που διαβιβάζει τη δύναμη | >-6dBm |
| Οπτική λαμβάνουσα ευαισθησία | -38dBm |
| Σήμα συγχρονισμού | |
| Οπτικές εισαγωγή & παραγωγή συγχρονισμού ΜΑΔ | 4Nos |
| Οπτικές εισαγωγή & παραγωγή (ΣΥΝΕΧΟΎΣ) συγχρονισμού irig-β | 4Nos |
| Χρονική ακρίβεια παραγωγής συγχρονισμού | καλύτερα από 100ns |
| Ανεφοδιασμός εισαγωγής | AC220V±10%, 50/60HZ, κατανάλωση ισχύος λιγότερο από 20W |
| Συνθήκες εργασίας | θερμοκρασία 0℃~+55℃/Humidity ≤90% |
| Μέγεθος & βάρος | 360*400*160mm/7.5kgs |
Κύρια χαρακτηριστικά γνωρίσματα
1. Ψηφιακή δοκιμή λάθους παραγωγής ηλεκτρονικού (ψηφιακού) CT/PT
1) Δοκιμή λάθους αναλογίας και φάσης
2) Συμβατό σύστημα με το πρωτόκολλο iec61850-9-1, iec61850-9-2, iec61850-9-2LE και τα iec60044-FT3
3) Συμβατό σύστημα με τις διάφορες διεπαφές οπτικής ίνας
4) Ανάλυση ολογραφίας του μηνύματος iec61850-9-1/iec61850-9-2
5) Στοιχεία λάθους καταγραφής του σημείου δοκιμής και της έρευνας στοιχείων/του καταστήματος/της τυπωμένης ύλης από το λογισμικό
2. Δοκιμή λάθους αναλογικής παραγωγής ηλεκτρονικού (ψηφιακού) CT/PT και συμβατικού CT/PT
1) Δοκιμή λάθους αναλογίας και φάσης ψηφιακού CT/PT
2) Δοκιμή λάθους αναλογίας και φάσης συμβατικού CT/PT με να μετατρέψει στο σήμα τάσης κατευθείαν
τυποποιημένος μετατροπέας
3. Μέχρι την κατηγορία ψηφιακό CT/PT δοκιμής 0.2S
4. Ανάλογο της μικρής παραγωγής σημάτων
5. Αρμονική ανάλυση κυμάτων του σήματος εισαγωγής ψηφιακού CT/PT υπό δοκιμή, παραγωγή της καμπύλης φάσματος,
αρχείο του περιεχομένου κάθε φορά που αρμονική (μέχρι την αρμονική 50times), και υπολογισμός της αρμονικής διαστρέβλωσης.
6. Ανάλυση παραμέτρων αξίας RMS (εύρος, φάση, συχνότητα και κ.λπ.) του τυποποιημένου σήματος εισαγωγής
7. Σε πραγματικό χρόνο κυματοειδές παραγωγής επίδειξης, τυποποιημένο κυματοειδές σημάτων, πολικότητα, θέση συγχρονισμού και ποσοστό
αξία κάτω από το σημείο δοκιμής CT/PT υπό δοκιμή
8. Δοκιμή πολικότητας και χρονικής καθυστέρησης ψηφιακού CT/PT με τη χρησιμοποίηση του ενσωματωμένου κώδικα ΜΑΔ (σφυγμός ανά δευτερόλεπτο) και Β
στο σήμα συγχρονισμού παραγωγής
9. Λειτουργία από την ταμπλέτα μέσω APP του λογισμικού (προαιρετικού)
10. Συμμόρφωση EMC με τα πρότυπα iec60044-8
11. Λογισμικό PC
1) Φιλικό HMI και σαφείς διεπαφές
2) Αυτόματα εκτός από τα στοιχεία δοκιμής και παράγετε την έκθεση δοκιμής
Υπεύθυνος Επικοινωνίας: Mr. Tony Han
Τηλ.:: 86-15237157117
Φαξ: 86-371-55692730
